Сочинение на тему Преимущества и недостатки электронного микроскопа
- Опубликовано: 24.09.2020
- Предмет: Наука
- Темы: Технологии, электроника
Электронный пучок используется в электронном микроскопе, а не в видимом свете, и этот электронный пучок обнаруживается электронным детектором. Электронный луч помогает увидеть очень маленькие участки образца, потому что он ведет себя так же, как длина волны света, но разница в том, что длина волны электронного луча намного меньше, чем длина волны видимого света, что позволяет видеть элементы до нанометров. P >
Histroy:
- Ганс Буш был первым ученым, разработавшим электромагнитную линзу в 1931 году.
- Эрнст Руска и Макс Нолл построили прототип электронного микроскопа в 1931 году с увеличением в четыреста сил.
- В 1933 году Руска построила электронный микроскоп, который превышает разрешение, достигаемое с помощью оптического (светового) микроскопа. Райнхольд Руденберг и Siemens-Schuckertwerke оба партнера представили электронный микроскоп в мае 1931 года.
Принцип:
Принцип действия электронного микроскопа очень похож на яркий микроскоп. Он имеет большое различие между ярким микроскопом и электронным микроскопом в том, что пользователь использует линзу и источник видимого света, тогда как последний использует электромагнитные линзы (электромагниты в форме пончика) и электронный луч. Электроны могут сталкиваться с молекулами воздуха и отклоняться, что препятствует формированию изображения. Следовательно, микроскоп имеет сверхвысокий вакуум внутри трубки.
Преимущества
Самое первое преимущество – это большое увеличение. Электронные микроскопы используются в технологических и промышленных приложениях, таких как проверка полупроводников, изготовление компьютерных микросхем и контроль качества, а также на производственных линиях.
Недостатки
Они очень дорогие и очень большие по размеру, поэтому их нужно хранить на очень большой площади. Они также очень чувствительны к вибрации и внешним магнитным полям. Они требуют стабильного напряжения питания, токов на электромагнитную линзу и циркуляции холодной воды, чтобы образцы не пострадали от тепла, выделяемого в процессе возбуждения электронов. Кроме этого они требуются в высококлассных исследовательских лабораториях.
Типы электронной микроскопии
Электронный микроскоп далее делится на;
- Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)
- Трансмиссионный электронный микроскоп (ТЕМ)
Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)
Первым разработанным электронным микроскопом был просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ). В ПЭМ тонкие срезы образцов снимаются пучком электронов, а затем эти электроны обнаруживаются с другой стороны. Тонкий срез образца можно увидеть в очень высоком разрешении с помощью ПЭМ. Это помогает изучать компоненты внутри клетки, такие как органеллы и их структуры.
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)
Поверхность трехмерных объектов в высоком разрешении видна под сканирующим электронным микроскопом (SEM). Сфокусированный пучок электронов сканирует поверхность объекта, а затем обнаруживаются электроны, которые отражаются назад от поверхности образцов. СЭМ хорошо подходит для формирования трехмерных изображений вшей, мух и т. Д., Поскольку на СЭМ можно наблюдать целые объекты при малых увеличениях.
Цель этого эксперимента – получить представление о полностью настраиваемой программе LabVIEW и понять, как инженеры используют программу в своих интересах, чтобы создать собственную лабораторию, которая
Кибербезопасность или защита информационных технологий – это методы защиты компьютеров, сетей, программ и данных от несанкционированного доступа или атак, направленных на эксплуатацию. Существует четыре типа
Машиностроение – это дисциплина, связанная с применением знаний при решении реальных задач. Изучение методов калибровки считается одной из наиболее важных тем в области проектирования, поскольку